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怎么測介電常數和介質損耗

更新時間:2021-06-09      點擊次數:2525
  • 什么是介電常數

 某一電介質(如硅酸鹽、高分子材料)組成的電容器在一定電壓作用下所得到的電容量Cx與同樣大小的介質為真空的電容器的電容量Co之比值,被稱為該電介質材料的相對介電常數

  • 什么是介質損耗

?電介質材料在外電場作用下發熱而損耗的那部分能量。在直流電場作用下,介質沒有周期性損耗,基本上是穩態電流造成的損耗在交流電場作用下,介質損耗除了穩態電流損耗外,還有各種交流損耗。由于電場的頻繁轉向,電介質中的損耗要比直流電場作用時大許多(有時達到幾千倍),因此介質損耗通常是指交流損耗。

 

介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質;

通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。

  •  怎么測試介電常數

 

  1. S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

?介電常數測試儀 測微桿

 

  1. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH15MHz時電感取1.5uH
  2. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm),樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平整。(小于0.5mm的樣品測試,請參考附錄三,疊加測試法)
  3. 調節S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設置為0
  4. 再松開兩片極片,把被測樣品夾入平板電容上下極片之間,調節S916測試夾具的測微桿,直到平板電容極片夾住樣品止(注意調節時要用S916測試夾具的測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值,既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調電容容量(旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量),使主機處于諧振點(Q值最大值)上。
  5. 取出S916測試夾具中的樣品,這時主機又失去諧振(Q值變小),此時調節S916測試夾具的測微桿,使主機再回到諧振點(Q值最大值)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4.
  6. 計算被測樣品的介電常數:

     Σ=D2 / D4

介電常數測試儀

  • 怎么測介質損耗

?

  1. 主機C0值的計算方式:
  1. 選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端;
  2. 將調諧電容器調到200P左右,令這個電容是C4
  3. 按下儀器面板的頻率搜索鍵,使測試回路諧振,諧振時Q的讀數為Q4(注:若頻率搜索未能找到最高Q值諧振點,可以通過頻率旋鈕來微調頻率來達到Q值最大值的諧振點;
  4. 將測試夾具接在“Cx”兩端,放入材料,上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值,然后拿出材料,調回到夾具的顯示數值,調節主調電容,使測試電路重新諧振,此時可變電容器值為C3Q值讀數為Q3(注:C3數值肯定比C4要小)

機構電容的有效電容為:Cz= C4C3

分布電容為機構電容CZ和電感分布電容CL(參考電感的技術說明)的和

介質損耗系數/介質損耗正切值為

 

  1. S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。
  2. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH15MHz時電感取1.5uH
  3. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。
  4. 調節S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調節S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調節時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值,既是樣品的厚度D2,改變主機上的主調電容容量,使主機處于諧振點(Q值最大值),然后按一次 主機上的小數點(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入,記住厚度D2的值,此時顯示數值為C2Q2
  5. 取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機又失去諧振(Q值變小),再改變主機上的主調電容容量,使主機重新處于諧振點(Q值最大值)上。
  6. 注意:多次測試同一個材料時,要求保持每次材料厚度的讀數一致。
  7. 第二次按下 主機上的小數點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2Q2顯示變化為C1Q1,同時顯示介質損耗系數tn =x x x x x ,即完成測試。
  8. 出錯提示,當出現tn =  NO 顯示時,說明測試時出現了差錯,發生了Q1 Q2C1 C2的錯誤情況。

?北京航天偉創設備科技有限公司 經營多種型號介電常數測試儀、直流電阻測試儀、體積電阻率測試儀等。

 

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